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  • PLS-F1002晶圓幾何形貌及參數(shù)紅外干涉自動檢測機(jī)

    晶圓幾何形貌及參數(shù)紅外干涉自動檢測機(jī)使用高精度高速紅外干涉點傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結(jié)合高精度運動模組及晶圓機(jī)械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍(lán)寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以實現(xiàn)的尺寸與結(jié)構(gòu)測量內(nèi)容包括: 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness , TIR, Sag, LTV(Fullmap 測試)。

    更新時間:2024-11-09
    型號:PLS-F1002
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:2405
  • PLS-F1000/F1002晶圓幾何形貌及參數(shù)自動檢測機(jī)

    晶圓幾何形貌及參數(shù)自動檢測機(jī)PLS- F1000/ F1002 是一款專門測量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數(shù)的自動晶圓形貌檢測及分選機(jī)。

    更新時間:2024-11-09
    型號:PLS-F1000/F1002
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:2627
  • PLS-F1000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī)

    晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結(jié)合高精度運動模組及晶圓機(jī)械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍(lán)寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以實現(xiàn)的尺寸與結(jié)構(gòu)測量內(nèi)容包括:包括 TTV, Bow, Warp, Thickness, TIR, Sag, LTV (Fullmap 測試)。

    更新時間:2024-11-09
    型號:PLS-F1000
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:3301
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